簡介：
雙式膜厚計LZ-373是一款中型雙膜測厚儀，具備電磁感應(yīng)和渦流探頭，廣泛應(yīng)用于測量磁性材料上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層。該測厚儀具有廣泛的測量范圍和高精度測量能力，支持數(shù)據(jù)存儲和統(tǒng)計計算功能。

主要特點：

1. 雙式測量方法：雙式膜厚計LZ-373采用電磁感應(yīng)和渦流組合型測量方法，適用于不同類型的涂層和金屬材料測量。

2. 寬泛測量范圍：電磁感應(yīng)型測量范圍為0~2500μm或99.0mils，渦流型測量范圍為0~1200μm或47.0mils。

3. 高精度測量：測量精度在50μm以下為±1μm，在50μm以上且1000μm以下為±2%，1000μm以上為±3%。

4. 數(shù)據(jù)存儲與統(tǒng)計計算：膜厚計具有大約39,000個點的數(shù)據(jù)內(nèi)存，并支持統(tǒng)計計算功能。

5. 多種兼容標準：雙式膜厚計LZ-373兼容多種標準，如JIS、ISO、BS和ASTM標準。

6. 方便實用的設(shè)計：該測厚儀采用數(shù)字式顯示，帶背光LCD，最小顯示位數(shù)為0.1μm。支持外部輸出連接計算機，具備便攜包和長達100小時的電池壽命。

技術(shù)規(guī)格：

• 測量方法：電磁感應(yīng)/渦流組合型

• 測量目標：磁性材料上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層

• 測量范圍：電磁感應(yīng)型0~2500μm，渦流型0~1200μm

• 測量精度：50μm以下為±1μm，50μm以上且1000μm以下為±2%，1000μm以上為±3%

• 解決能力：100μm以下為0.1μm，100μm以上為1μm

• 兼容標準：電磁感應(yīng)型兼容JIS、ISO、BS和ASTM標準，渦流型兼容JIS、ISO、BS和ASTM標準

• 數(shù)據(jù)存儲器數(shù)量：約39,000個點

• 外部輸出：計算機（USB或RS-232C）

• 電源：電池1.5V（AA堿性）x 4

• 工作溫度限制：0～40℃

• 尺寸/質(zhì)量：75（寬）×145（深）×31（高）毫米，0.34千克

附件和選項：
附件：標準板（10μm、50μm、100μm、500μm、1000μm、1500μm）、標準板盒、鐵底座（FE-373）、鋁底座（NFE-373）、探頭適配器、便攜包、電池1.5V（AA堿性）x 4
選項：可選標準板、測量支架LW-990、計算機電纜、RS-232C-USB電纜、數(shù)據(jù)管理軟件：“Data Logger LDL-03"

結(jié)語：
雙式膜厚計LZ-373是一款高精度薄膜測厚儀，具備電磁感應(yīng)和渦流組合型測量方法，可測量磁性材料上的非磁性涂層和非磁性金屬上的絕緣涂層。該測厚儀具有廣泛的測量范圍、高精度測量能力和數(shù)據(jù)存儲統(tǒng)計計算功能，滿足各種標準要求。便攜設(shè)計和多種附件和選項使其易于操作和使用，適用于工業(yè)領(lǐng)域的薄膜測厚應(yīng)用。