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日本Fujiwork富士連續(xù)型測厚儀FT-A200H：生產(chǎn)線薄膜厚度測量的高效解決方案

發(fā)布時間： 2025-08-26　　點(diǎn)擊次數(shù)： 102次

在薄膜生產(chǎn)和精密制造領(lǐng)域，精確測量薄膜厚度是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵。日本Fujiwork富士推出的FT-A200H連續(xù)型測厚儀，憑借其高精度測量、寬測量范圍和連續(xù)測量能力，為生產(chǎn)線上的薄膜厚度測量提供了一個高效、可靠的解決方案。
技術(shù)參數(shù)
測量范圍：FT-A200H的測量范圍為10μm至200μm。
測量分辨率：提供0.01μm的高分辨率，確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。
重復(fù)性：重復(fù)性為0.05μm，保證了測量的穩(wěn)定性和可靠性。
線性度：±0.2%，確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
測量壓力：標(biāo)準(zhǔn)測量壓力為0.3N，可根據(jù)需要調(diào)整。
輸出接口：支持模擬和RS232C輸出，方便與自動化系統(tǒng)集成。
尺寸和重量：主機(jī)尺寸為260（H）x 300（W）x 309（D）mm，重量約為10公斤。
電源：AC100-240V，適用于多種電源環(huán)境。
應(yīng)用場景
薄膜生產(chǎn)：在薄膜生產(chǎn)線上，F(xiàn)T-A200H能夠?qū)崟r監(jiān)測薄膜的厚度，確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性。
質(zhì)量控制：用于質(zhì)量控制環(huán)節(jié)，檢測薄膜厚度是否符合設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)，減少次品率。
研發(fā)和實(shí)驗(yàn)：在研發(fā)和實(shí)驗(yàn)階段，精確測量薄膜厚度，支持新材料和新工藝的開發(fā)。
優(yōu)勢與價值
高精度測量：FT-A200H提供高精度的厚度測量，能夠滿足高精度生產(chǎn)的要求。
連續(xù)測量能力：支持連續(xù)測量，提高了生產(chǎn)效率，減少了測量時間。
易于操作：設(shè)備操作簡單，只需將薄膜放置在測量位置，即可自動完成測量。
數(shù)據(jù)輸出：支持多種數(shù)據(jù)輸出方式，方便與自動化系統(tǒng)集成，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時監(jiān)控和記錄。
日本Fujiwork富士的FT-A200H連續(xù)型測厚儀以其高精度測量、寬測量范圍和連續(xù)測量能力，為薄膜生產(chǎn)和精密制造領(lǐng)域提供了理想的厚度測量解決方案，有助于提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。

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