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日本TOPCON UVR-300紫外線強度計為固化、殺菌與老化試驗提供基準標尺
發布時間： 2025-11-26 點擊次數： 102次在UV膠固化、半導體光阻曝光、水處理殺菌以及高分子老化測試中，“365 nm波段能量”直接決定工藝窗口與測試結果。日本TOPCON(拓普康)UVR-300紫外線強度計，以μV級光電流放大、余弦修正光學結構和可溯源校準，實現0.1 µW/cm²分辨率、±3%測量不確定度，為實驗室與產線提供一款“一機三探、波段可換”的UV量化基準。
一、μV級前端放大，0.1 µW/cm²分辨率
采用低噪聲JFET+屏蔽輸入級，暗電流<1 pA，等效輸入噪聲0.3 µV，使0.1 µW/cm²微弱信號仍可穩定分辨；
24-bit ΔΣADC，更新速率5 Hz，既保證快速固化跟隨，又抑制高頻噪聲，滿足JIS C 1609與CIE S017光譜響應要求。
二、365 nm為主，三探頭可換
標配UVD-365探頭(中心波長365 nm，半高寬10 nm)，另可選254 nm、313 nm、405 nm、可見PAR等7款窄帶探頭，旋扣式更換，系數自動識別，一表多用，覆蓋膠印、UV-LED固化、低壓汞燈殺菌、氙燈老化全場景。
三、余弦修正+溫度補償，角度寬容±70°
探測器前窗采用PTFE擴散板+石英半球罩，余弦誤差f2≤3%(0-70°入射角)，解決產線反光與多燈陣列造成的大角度輻射；內置Pt1000溫度傳感器，-10-50℃全范圍自動補償，系數寫入探頭EEPROM，更換探頭無需再次校準。
四、大動態范圍，雙量程自動切換
低量程：0-19.99 mW/cm²，分辨率0.1 µW/cm²，適合LED點光源近距離測量；
高量程：0-199.9 mW/cm²，分辨率1 µW/cm²，滿足高壓汞燈、金屬鹵素燈老化箱高強度輸出；
自動換擋無跳數，峰值保持功能可捕捉<100 ms脈沖峰值，用于閃光燈曝光能量測試。
五、數據輸出與審計追溯
USB-C虛擬串口，每秒輸出 irradiance (µW/cm²)、累積劑量 (mJ/cm²) 與溫度，可直接接入PLC或數據采集卡；
內置8MB存儲，可離線記錄7天1s數據，配套軟件自動導出CSV，滿足ISO 17025審計追蹤要求。
七、技術規格一覽
測量波長：標配365 nm(254/313/405 nm可選)
量程：0-199.9 mW/cm²，雙檔自動
分辨率：0.1 µW/cm²(低量程)
不確定度：±3%(k=2，@25℃)
余弦誤差：≤3%(0-70°)
響應時間：0.2 s(0-90%)
數據接口：USB-C(虛擬串口)+離線記錄
電源：內置鋰電>40h，或USB-C 5V供電
工作環溫：-10-50℃，RH<85%
結語
日本TOPCON UVR-300以μV級前端、365 nm窄帶、余弦修正與USB即傳，為UV固化、殺菌、老化與半導體曝光提供0.1 µW/cm²級精度的“量化標尺”，是實驗室標定、產線監控與工藝追溯的理想紫外線強度基準。
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