項目（Item）
產品概述
超高輝度照明裝置（UIH 系列）是日本 INTECS（英特斯）推出的精密目視檢測專用超高輝度照明裝置，專為半導體、光學器件、電子精密部件等領域設計，通過高亮度均勻鹵素光源，實現對微小表面缺陷、內部異物及氣泡的清晰目視識別，同時兼顧熱敏性工件的熱影響控制，是制造品控環節的核心輔助設備。
核心優勢與性能特點
1. 高亮度精準照明
在 180mm 標準工作距離下， 超高輝度照明裝置（UIH 系列）的中心亮度可達60 萬勒克斯，能清晰凸顯微米級表面劃痕、內部雜質、氣泡等常規光源難以識別的微小缺陷，大幅提升目視檢測可靠性。
光路均勻性優異，50 萬勒克斯照射直徑達 φ45mm，避免局部過亮或暗區導致的漏檢。
2. 靈活適配多場景
亮度可調幅度達10:1 以上，可根據不同工件材質（透明玻璃 / 金屬 / 半導體晶圓）、表面光潔度靈活調節，適配多樣化檢測需求。
雙倍照射模式下（360mm 距離）仍保持 15 萬勒克斯亮度，兼顧小尺寸工件精細化檢測與大尺寸工件高效篩查。
3. 穩定耐用與安全設計
燈泡壽命表現優異：高亮度下可持續工作≥50 小時，半亮度下壽命≥800 小時，降低耗材更換頻率與運維成本。
風扇強制風冷 + 斷電后持續冷卻功能，有效控制燈箱溫度，避免高溫對熱敏性工件造成形變、變色，同時延長燈泡使用壽命。
SCR 相位調光技術，亮度調節平滑穩定，無頻閃干擾，長期作業不易造成視覺疲勞。
4. 便捷易用的工程設計
整機約 7kg，結構緊湊，便于實驗室或生產現場移動部署，無需復雜安裝，通電即可投入使用。
無額外發熱監測與冷卻保持功能冗余設計，操作邏輯簡潔，降低現場使用門檻。
典型應用場景
半導體領域：拋光晶圓霧度檢測、晶圓表面微小劃痕與異物識別。
光學領域：手機玻璃、光學鏡頭、平板顯示面板的表面缺陷與內部氣泡檢查。
電子領域：硬盤、精密電子元器件的外觀瑕疵與內部雜質目視確認。
精密制造：各類高精度金屬 / 非金屬部件的表面質量管控。
使用注意事項
主電源關閉后，風扇將持續運轉至燈箱內部溫度降至 40℃以下，此過程為正常保護機制，請勿強行斷電。
建議根據工件材質與檢測需求調節亮度，避免長時間使用高亮度以延長燈泡壽命。
設備適配 AC100V 電源，使用前需確認供電規格匹配，避免電壓異常導致設備損壞。
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